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  标准概要

集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片

Low density crystal originated pit polished monocrystalline silicon wafers for integrated circuit
国家标准《集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 有研半导体硅材料股份公司 、山东有研半导体材料有限公司 、杭州中欣晶圆半导体股份有限公司 、南京国盛电子有限公司 、有色金属技术经济研究院有限责任公司 、浙江金瑞泓科技股份有限公司 、中环领先半导体材料有限公司 、浙江海纳半导体有限公司 。 主要起草人 孙燕 、宁永铎 、钟耕杭 、李洋 、徐新华 、骆红 、杨素心 、李素青 、张海英 、由佰玲 、潘金平 。 GB/T 41325-2022 现行
  基础信息
标准号 GB/T 41325-2022
发布日期 2022-03-09
实施日期 2022-10-01
标准号 GB/T 41325-2022
发布日期 2022-03-09
实施日期 2022-10-01
  起草单位
  有研半导体硅材料股份公司
  杭州中欣晶圆半导体股份有限公司
  有色金属技术经济研究院有限责任公司
  中环领先半导体材料有限公司
  山东有研半导体材料有限公司
  南京国盛电子有限公司
  浙江金瑞泓科技股份有限公司
  浙江海纳半导体有限公司
  起草人
  孙燕
  宁永铎
  徐新华
  骆红
  张海英
  由佰玲
  钟耕杭
  李洋
  杨素心
  李素青
  潘金平
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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