
20231891-T-339 半导体分立器件 第4部分:微波二极管和晶体管

JB/T 7624-2013 整流二极管测试方法

JB/T 7624-1994 整流二极管测试方法

SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范

SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法

SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法

SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法