
GB/T 3789-2013 发射管电性能测试方法

SJ/T 10196-1991 中小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法

20232674-T-469 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法

SJ/T 10402-1993 半导体音响电路自动选曲电路测试方法的基本原理

SJ/T 10400-1993 半导体音响电路图示均衡电路测试方法的基本原理

SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

YD/T 2086-2010 CDMA数字蜂窝移动通信网通用集成电路卡(UICC)与终端间接口测试方法:CSIM应用特性

GB/T 19247.6-2024 印制板组装 第6部分:球栅阵列(BGA)和盘栅阵列(LGA)焊点空洞的评估要求及测试方法

20240567-T-469 智能计算 忆阻器基础特性测试方法

YD/T 3037.1-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端