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  标准概要

无损检测 术语 第10部分:磁记忆检测

Non-destructive testing—Terminology—Part 10:Magnetic memory testing
国家标准《无损检测 术语 第10部分:磁记忆检测》 由TC56(全国无损检测标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 爱德森(厦门)电子有限公司 、上海材料研究所有限公司 、中国特种设备检测研究院 、中国科学院金属研究所 、国家能源集团科学技术研究院 、南昌航空大学 、中国铁道科学研究院集团有限公司金属及化学研究所 、中国人民解放军陆军装甲兵学院 、清华大学 、厦门大学 。 主要起草人 林俊明 、沈功田 、蔡桂喜 、胡先龙 、丁杰 、宋凯 、董世运 、黄松岭 、黄凤英 、曾志伟 、胡斌 、戴永红 。 GB/T 12604.10-2011 (全部代替) GB/T 12604.10-2023 现行
  基础信息
标准号 GB/T 12604.10-2023
发布日期 2023-05-23
实施日期 2023-05-23
全部代替标准 GB/T 12604.10-2011
标准号 GB/T 12604.10-2023
发布日期 2023-05-23
实施日期 2023-05-23
全部代替标准 GB/T 12604.10-2011
  起草单位
  爱德森(厦门)电子有限公司
  中国特种设备检测研究院
  国家能源集团科学技术研究院
  中国铁道科学研究院集团有限公司金属及化学研究所
  清华大学
  上海材料研究所有限公司
  中国科学院金属研究所
  南昌航空大学
  中国人民解放军陆军装甲兵学院
  厦门大学
  起草人
  林俊明
  沈功田
  丁杰
  宋凯
  黄凤英
  曾志伟
  蔡桂喜
  胡先龙
  董世运
  黄松岭
  胡斌
  戴永红
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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