标准概要

半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits

国家标准《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位上海元件五厂。 GB/T 14028-1992 废止 GB/T 14028-2018 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 14028-1992

发布日期 1992-12-17

实施日期 1993-08-01

废止日期 2018-08-01

标准号 GB/T 14028-1992

发布日期 1992-12-17

实施日期 1993-08-01

废止日期 2018-08-01

起草单位

上海元件五厂

起草人

GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法

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申明

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