宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

国家标准《宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法》 由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行 ，主管部门为国家标准委。 主要起草单位 北京微电子技术研究所 、中国航天电子技术研究院 。 主要起草人 赵元富 、姚全斌 、林鹏荣 、冯小成 、荆林晓 、李洪剑 、付明洋 、林建京 、曹燕红 、刘思嘉 、刘征宇 。 GB/T 43227-2023 现行