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标准概要
硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
国家标准《硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 宁波立立电子股份有限公司 、南京国盛电子有限公司 、信息产业部专用材料质量监督检验中心 。 主要起草人 李慎重 、许峰 、刘培东 、谌攀 、马林宝 、何秀坤 。 GB/T 14141-1993 (全部代替) GB/T 14141-2009 现行
基础信息
标准号
GB/T 14141-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
全部代替标准
GB/T 14141-1993
标准号
GB/T 14141-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
全部代替标准
GB/T 14141-1993
起草单位
宁波立立电子股份有限公司
信息产业部专用材料质量监督检验中心
南京国盛电子有限公司
起草人
李慎重
许峰
马林宝
何秀坤
刘培东
谌攀
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