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红外焦平面阵列参数测试方法
Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国科学院上海技术物理研究所 。 主要起草人 丁瑞军 、梁平治 、唐红兰 、陈洪雷 、曹妩媚 、殷建军等 。 GB/T 17444-1998 (全部代替) GB/T 17444-2013 现行
基础信息
标准号
GB/T 17444-2013
发布日期
2013-11-12
实施日期
2014-04-15
全部代替标准
GB/T 17444-1998
标准号
GB/T 17444-2013
发布日期
2013-11-12
实施日期
2014-04-15
全部代替标准
GB/T 17444-1998
起草单位
中国科学院上海技术物理研究所
起草人
丁瑞军
梁平治
曹妩媚
殷建军
唐红兰
陈洪雷
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