标准概要

氮化镓单晶位错密度的测量阴极荧光显微镜法

Test method for disoclation density of GaN single crystal—Cathodoluminescence spectroscopy

国家标准《氮化镓单晶位错密度的测量阴极荧光显微镜法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、苏州纳维科技有限公司。主要起草人曾雄辉、张燚、董晓鸣、牛牧童、刘争晖、邱永鑫、王建峰、徐科。 GB/T 32282-2015 现行

基础信息

标准号 GB/T 32282-2015

发布日期 2015-12-10

实施日期 2016-11-01

标准号 GB/T 32282-2015

发布日期 2015-12-10

实施日期 2016-11-01

起草单位

中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

苏州纳维科技有限公司

起草人

曾雄辉

张燚

刘争晖

邱永鑫

董晓鸣

牛牧童

王建峰

徐科

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申明

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