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半导体集成电路 电压调整器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators
国家标准《半导体集成电路 电压调整器测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 圣邦微电子(北京)股份有限公司 、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 、成都振芯科技股份有限公司 、北京宇翔电子有限公司 。 主要起草人 王鸿儒 、袁莹莹 、邹臣 、朱华 、张宝华 、张冰 、陈志培 、罗彬 。 GB/T 4377-1996 (全部代替) GB/T 4377-2018 现行
  基础信息
标准号 GB/T 4377-2018
发布日期 2018-03-15
实施日期 2018-08-01
全部代替标准 GB/T 4377-1996
标准号 GB/T 4377-2018
发布日期 2018-03-15
实施日期 2018-08-01
全部代替标准 GB/T 4377-1996
  起草单位
  圣邦微电子(北京)股份有限公司
  成都振芯科技股份有限公司
  中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
  北京宇翔电子有限公司
  起草人
  王鸿儒
  袁莹莹
  张宝华
  张冰
  邹臣
  朱华
  陈志培
  罗彬
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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