标准概要

发光二极管芯片点测方法

Probe test method for light emitting diode chips

国家标准《发光二极管芯片点测方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位三安光电股份有限公司、厦门市三安光电科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、广州赛西标准检测研究院有限公司。主要起草人蔡伟智、梁奋、刘秀娟、李国煌、吕艳、金威、邵晓娟、周钢、时军朋。 GB/T 36613-2018 现行

基础信息

标准号 GB/T 36613-2018

发布日期 2018-09-17

实施日期 2019-01-01

标准号 GB/T 36613-2018

发布日期 2018-09-17

实施日期 2019-01-01

起草单位

三安光电股份有限公司

中国电子技术标准化研究院

厦门市三安光电科技有限公司

广州赛西标准检测研究院有限公司

起草人

蔡伟智

梁奋

吕艳

金威

时军朋

刘秀娟

李国煌

邵晓娟

周钢

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申明

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