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  标准概要

硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法

Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
国家标准《硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 南京国盛电子有限公司 、有色金属技术经济研究院有限责任公司 、中电晶华(天津)半导体材料有限公司 、有研半导体材料有限公司 、河北普兴电子科技股份有限公司 、浙江金瑞泓科技股份有限公司 、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司 、无锡华润上华科技有限公司 、义乌力迈新材料有限公司 。 主要起草人 骆红 、潘文宾 、杨素心 、赵扬 、赵而敬 、张佳磊 、李慎重 、黄黎 、严琴 、黄宇程 、皮坤林 。 GB/T 14146-2009 (全部代替) GB/T 14146-2021 现行
  基础信息
标准号 GB/T 14146-2021
发布日期 2021-05-21
实施日期 2021-12-01
全部代替标准 GB/T 14146-2009
标准号 GB/T 14146-2021
发布日期 2021-05-21
实施日期 2021-12-01
全部代替标准 GB/T 14146-2009
  起草单位
  南京国盛电子有限公司
  中电晶华(天津)半导体材料有限公司
  河北普兴电子科技股份有限公司
  瑟米莱伯贸易(上海)有限公司
  义乌力迈新材料有限公司
  有色金属技术经济研究院有限责任公司
  有研半导体材料有限公司
  浙江金瑞泓科技股份有限公司
  无锡华润上华科技有限公司
  起草人
  骆红
  潘文宾
  赵而敬
  张佳磊
  严琴
  黄宇程
  杨素心
  赵扬
  李慎重
  黄黎
  皮坤林
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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