碳基薄膜 椭偏光谱法测定非晶态碳基薄膜的光学性能

国家标准《碳基薄膜 椭偏光谱法测定非晶态碳基薄膜的光学性能》 由TC57（全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会）归口，TC57SC10（全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会气相沉积分会）执行 ，主管部门为中国机械工业联合会。 主要起草单位 中国机械总院集团武汉材料保护研究所有限公司 、纳狮新材料有限公司 、安徽纯源镀膜科技有限公司 、中国科学院深圳先进技术研究院 、广东电网有限责任公司 、广州今泰科技股份有限公司 。 主要起草人 段海涛 、贾丹 、曹一莹 、张心凤 、沈学忠 、高明 、詹胜鹏 、凃杰松 、王彦峰 、王流火 、杨田 、陈辉 、骆小双 、尤锦鸿 、易娟 、苏东艺 。 GB/T 44538-2024 即将实施 本标准修改采用ISO国际标准：ISO 23216:2021。 采标中文名称:碳基薄膜 椭偏光谱法测定非晶态碳基薄膜的光学性能。