标准概要

微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction

国家标准《微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院。主要起草人柳得橹、娄艳芝。 GB/T 20724-2006 （全部代替） GB/T 20724-2021 现行

基础信息

标准号 GB/T 20724-2021

发布日期 2021-12-31

实施日期 2022-07-01

全部代替标准 GB/T 20724-2006

标准号 GB/T 20724-2021

发布日期 2021-12-31

实施日期 2022-07-01

全部代替标准 GB/T 20724-2006

起草单位

北京科技大学

中国航发北京航空材料研究院

起草人

柳得橹

娄艳芝

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申明

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