标准概要

CMOS集成电路抗辐射加固设计要求

Design requirements of radiation hardening for CMOS IC

国家标准《CMOS集成电路抗辐射加固设计要求》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所。主要起草人刘智、葛梅、谢成民、王斌、岳红菊、于洪波、姚思远、李海松、耿增建、胡巧玉。 GB/T 41033-2021 现行

基础信息

标准号 GB/T 41033-2021

发布日期 2021-12-31

实施日期 2022-07-01

标准号 GB/T 41033-2021

发布日期 2021-12-31

实施日期 2022-07-01

起草单位

中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所

起草人

刘智

葛梅

岳红菊

于洪波

耿增建

胡巧玉

谢成民

王斌

姚思远

李海松

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申明

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