标准概要

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

Extrinsic semiconductor single crystals--measurement of Hall mobility and Hall coefficient

国家标准《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》由610（中国有色金属工业协会）归口，主管部门为中国有色金属工业协会。主要起草单位有色金属研究总院。 GB/T 4326-1984 废止 GB/T 4326-2006 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 4326-1984

发布日期 1984-04-12

实施日期 1985-03-01

废止日期 2006-12-31

标准号 GB/T 4326-1984

发布日期 1984-04-12

实施日期 1985-03-01

废止日期 2006-12-31

起草单位

有色金属研究总院

起草人

20233951-T-610 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

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申明

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