标准概要

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位天津大学。 GB/T 5594.4-1985 废止 GB/T 5594.4-2015 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 5594.4-1985

发布日期 1985-11-27

实施日期 1986-12-01

废止日期 2016-01-01

标准号 GB/T 5594.4-1985

发布日期 1985-11-27

实施日期 1986-12-01

废止日期 2016-01-01

起草单位

天津大学

起草人

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申明

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