标准概要

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test methodfor mean coefficient of linear expansion

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位电子部12所。 GB/T 5594.3-1985 废止 GB/T 5594.3-2015 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 5594.3-1985

发布日期 1985-11-27

实施日期 1986-12-01

废止日期 2016-01-01

标准号 GB/T 5594.3-1985

发布日期 1985-11-27

实施日期 1986-12-01

废止日期 2016-01-01

起草单位

电子部12所

起草人

GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法

GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法

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GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法

GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

推荐标准

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申明

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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法