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  标准概要

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forvolume resistivity
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 南京电子管厂 。 GB/T 5594.5-1985 现行 20240187-T-339 正在起草
  基础信息
标准号 GB/T 5594.5-1985
发布日期 1985-11-27
实施日期 1986-12-01
标准号 GB/T 5594.5-1985
发布日期 1985-11-27
实施日期 1986-12-01
  起草单位
  南京电子管厂
  起草人
  GB/T 5594.1-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
  GB/T 5594.2-1985  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
  20242763-T-906  导电、防静电塑料体积电阻率测试方法
  GB/T 5594.6-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法
  20240187-T-339  电子陶瓷测试方法 第5部分:体积电阻率
  GB/T 5594.3-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法
  GB/T 5594.8-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
  GB/T 5594.4-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
  JB/T 13537-2018  电磁屏蔽用导电粉体体积电阻率测试方法
  GB/T 5594.7-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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