标准概要

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位天津大学。 GB/T 5594.2-1985 现行 20240190-T-339 正在起草

基础信息

标准号 GB/T 5594.2-1985

发布日期 1985-11-27

实施日期 1986-12-01

标准号 GB/T 5594.2-1985

发布日期 1985-11-27

实施日期 1986-12-01

起草单位

天津大学

起草人

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申明

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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

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