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  标准概要

锑化铟多晶、单晶及切割片

Indium antimonide polycrystal,single crystals and as-cut slices
国家标准《锑化铟多晶、单晶及切割片》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 峨嵋半导体材料研究所 。 GB/T 11072-1989 废止 GB/T 11072-2009 (全部代替)
  基础信息
标准号 GB/T 11072-1989
发布日期 1989-03-31
实施日期 1990-02-01
废止日期 2010-06-01
标准号 GB/T 11072-1989
发布日期 1989-03-31
实施日期 1990-02-01
废止日期 2010-06-01
  起草单位
  峨嵋半导体材料研究所
  起草人
  GB/T 11072-2009  锑化铟多晶、单晶及切割片
  GB/T 11297.7-1989  锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法
  GB/T 11297.6-1989  锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法
  GB/T 11094-2020  水平法砷化镓单晶及切割片
  GB/T 11093-2007  液封直拉法砷化镓单晶及切割片
  GB/T 12965-2018  硅单晶切割片和研磨片
  GB/T 29508-2013  300mm 硅单晶切割片和磨削片
  20241911-T-469  太阳能电池用硅单晶及硅单晶片
  20241934-T-469  太阳能电池用砷化镓单晶及抛光片
  20240138-T-469  氮化铝单晶抛光片
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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