标准概要

硅单晶中氮含量的测定二次离子质谱法

Determination of nitrogen content in silicon single crystal—Secondary ion mass spectrometry method

国家标准《硅单晶中氮含量的测定二次离子质谱法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。主要起草单位中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司。主要起草人马农农、何友琴、李素青、陈潇、刘立娜、何烜坤。 GB/T 42263-2022 现行

基础信息

标准号 GB/T 42263-2022

发布日期 2022-12-30

实施日期 2023-04-01

标准号 GB/T 42263-2022

发布日期 2022-12-30

实施日期 2023-04-01

起草单位

中国电子科技集团公司第四十六研究所