标准概要

半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits

国家标准《半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位上海元件五厂。 GB/T 14032-1992 现行

基础信息

标准号 GB/T 14032-1992

发布日期 1992-12-17

实施日期 1993-08-01

标准号 GB/T 14032-1992

发布日期 1992-12-17

实施日期 1993-08-01

起草单位

上海元件五厂

起草人

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推荐标准

申明

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