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  标准概要

硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法

Test method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
国家标准《硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中科院上海冶金研究所 。 GB/T 14144-1993 废止 GB/T 14144-2009 (全部代替) 本标准等效采用ITU国际标准:ASTM F951:1987。 采标中文名称:。
  基础信息
标准号 GB/T 14144-1993
发布日期 1993-02-06
实施日期 1993-10-01
废止日期 2010-06-01
标准号 GB/T 14144-1993
发布日期 1993-02-06
实施日期 1993-10-01
废止日期 2010-06-01
  起草单位
  中科院上海冶金研究所
  起草人
  GB/T 14144-2009  硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
  GB/T 1557-2018  硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
  20233945-T-610  硅片径向电阻率变化测量方法
  SJ/T 11491-2015  短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
  SJ/T 10625-1995  锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法
  SJ/T 11552-2015  以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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