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  标准概要

硅片直径测量方法 千分尺法

Silicon slices and wafers--Measuring of diameter--Micrometer method
国家标准《硅片直径测量方法 千分尺法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 洛阳单晶硅厂 。 GB/T 14140.2-1993 废止 GB/T 14140-2009 (全部代替)
  基础信息
标准号 GB/T 14140.2-1993
发布日期 1993-02-06
实施日期 1993-10-01
废止日期 2010-06-01
标准号 GB/T 14140.2-1993
发布日期 1993-02-06
实施日期 1993-10-01
废止日期 2010-06-01
  起草单位
  洛阳单晶硅厂
  起草人
  GB/T 14140-2009  硅片直径测量方法
  20233945-T-610  硅片径向电阻率变化测量方法
  DB15/T 883-2015  平均纤维直径及纤维直径分布测定方法赛罗兰(sirolan)-激光扫描纤维直径分析仪法
  GB/T 12540-2009  汽车最小转弯直径、最小转弯通道圆直径和外摆值测量方法
  20231107-T-469  硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法
  GB/T 11073-2007  硅片径向电阻率变化的测量方法
  DB65/T 2615-2006  毛线纤维直径试验方法 视觉纤维直径分析仪(OFDA)法
  GB/T 26826-2011  碳纳米管直径的测量方法
  GB/T 29505-2013  硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
  ZBW 0017-1989  纱线直径测定方法CCD测定仪法
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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