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  标准概要

薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
国家标准《薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 国营七九九厂 。 GB/T 14620-1993 废止 GB/T 14620-2013 (全部代替)
  基础信息
标准号 GB/T 14620-1993
发布日期 1993-09-03
实施日期 1993-12-01
废止日期 2014-04-15
标准号 GB/T 14620-1993
发布日期 1993-09-03
实施日期 1993-12-01
废止日期 2014-04-15
  起草单位
  国营七九九厂
  起草人
  GB/T 14620-2013  薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
  SJ/T 10243-1991  微波集成电路用氧化铝陶瓷基片
  GB/T 14619-2013  厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
  GB/T 39863-2021  覆铜板用氧化铝陶瓷基片
  SJ/T 10456-1993  混和集成电路用被釉钢基片
  YY/T 1152-2009  生物芯片用醛基基片
  JB/T 10874-2022  机械密封用氧化铝陶瓷密封环
  JC/T 2680-2022  高温隔热用高纯泡沫氧化铝陶瓷砖
  20221698-T-609  氮化硅陶瓷基片
  20242896-T-604  电气绝缘用薄膜 第6部分:聚酰亚胺薄膜
  推荐标准
  申明
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