标准概要

带电粒子半导体探测器测试方法

Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors

国家标准《带电粒子半导体探测器测试方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京核仪器厂。 GB 5201-1985 （全部代替） GB/T 5201-1994 废止 GB/T 5201-2012 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 5201-1994

发布日期 1994-12-22

实施日期 1995-10-01

废止日期 2012-11-01

标准号 GB/T 5201-1994

发布日期 1994-12-22

实施日期 1995-10-01

废止日期 2012-11-01

起草单位

北京核仪器厂

起草人

GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法

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申明

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