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多探针测试台通用技术条件

General specification for probe tester
国家标准《多探针测试台通用技术条件》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 平凉半导体专用设备研究所 。 GB/T 15394-1994 现行 20240199-T-339 正在征求意见
  基础信息
标准号 GB/T 15394-1994
发布日期 1994-12-28
实施日期 1995-08-01
标准号 GB/T 15394-1994
发布日期 1994-12-28
实施日期 1995-08-01
  起草单位
  平凉半导体专用设备研究所
  起草人
  20240199-T-339  多探针测试台通用技术条件
  SJ/T 10315-1992  四探针探头通用技术条件
  SJ/T 10314-1992  直流四探针电阻率测试通用技术条件
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  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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