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  标准概要

硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

Test method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
国家标准《硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 峨嵋半导体材料厂 。 GB 1554-1979 (全部代替) GB 4057-1983 (全部代替) GB/T 1554-1995 废止 GB/T 1554-2009 (全部代替) 本标准等效采用ITU国际标准:ASTM F47:1988。 采标中文名称:。
  基础信息
标准号 GB/T 1554-1995
发布日期 1995-04-18
实施日期 1995-12-01
废止日期 2010-06-01
标准号 GB/T 1554-1995
发布日期 1995-04-18
实施日期 1995-12-01
废止日期 2010-06-01
  起草单位
  峨嵋半导体材料厂
  起草人
  GB/T 1554-2009  硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
  GB/T 14142-2017  硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
  GB/T 4061-2009  硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
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  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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