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  标准概要

硅片抗弯强度测试方法

Test method for measuring flexure strength of silicon slices
国家标准《硅片抗弯强度测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中南工业大学 。 GB/T 15615-1995 废止
  基础信息
标准号 GB/T 15615-1995
发布日期 1995-07-12
实施日期 1996-02-01
废止日期 2004-10-14
标准号 GB/T 15615-1995
发布日期 1995-07-12
实施日期 1996-02-01
废止日期 2004-10-14
  起草单位
  中南工业大学
  起草人
  SJ/T 11630-2016  太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法
  SJ/T 11631-2016  太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
  SJ/T 11632-2016  太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
  SJ/T 11627-2016  太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
  GB/T 6619-2009  硅片弯曲度测试方法
  SJ/T 11628-2016  太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法
  GB/T 6621-2009  硅片表面平整度测试方法
  GB/T 26067-2010  硅片切口尺寸测试方法
  GB/T 42789-2023  硅片表面光泽度的测试方法
  GB/T 6618-2009  硅片厚度和总厚度变化测试方法
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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