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金属氧化物半导体气敏元件测试方法

Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
国家标准《金属氧化物半导体气敏元件测试方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 电子工业部标准化研究所 。 GB/T 15653-1995 现行
  基础信息
标准号 GB/T 15653-1995
发布日期 1995-07-24
实施日期 1996-04-01
标准号 GB/T 15653-1995
发布日期 1995-07-24
实施日期 1996-04-01
  起草单位
  电子工业部标准化研究所
  起草人
  20231887-T-339  金属氧化物半导体气敏元件总规范
  GB/T 15652-1995  金属氧化物半导体气敏元件总规范
  JB/T 11623-2013  平面厚膜半导体气敏元件
  SJ/T 10431-1993  湿敏元件用湿度发生器和湿度测试方法
  20241982-T-604  家用和类似用途气敏传感功能控制器技术规范
  SJ/T 10434-1993  电子设备用电阻式湿敏元件 空白详细规范
  GB/T 15768-1995  电容式湿敏元件与湿度传感器总规范
  SJ/T 10433-1993  电子设备用电阻式湿敏元件 第二部分:分规范
  SJ/T 10432-1993  电子设备用电阻式湿敏元件 第一部分:总规范
  20242756-T-604  光学和光子学 光学元件 复杂曲面光学元件几何参数测试方法
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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