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标准概要
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage regulator
国家标准《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 北京半导体器件五厂 。 GB 4377-1984 (全部代替) GB/T 4377-1996 废止 GB/T 4377-2018 (全部代替)
基础信息
标准号
GB/T 4377-1996
发布日期
1996-07-09
实施日期
1997-01-01
废止日期
2018-08-01
全部代替标准
GB 4377-1984
标准号
GB/T 4377-1996
发布日期
1996-07-09
实施日期
1997-01-01
废止日期
2018-08-01
全部代替标准
GB 4377-1984
起草单位
北京半导体器件五厂
起草人
SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
20232703-T-339 半导体集成电路 电压调整器系列和品种
GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法
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GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
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申明
本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台,本内容目的仅在于分享交流与学习。
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