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  标准概要

微米级长度的扫描电镜测量方法

Micron grade length measurement by SEM
国家标准《微米级长度的扫描电镜测量方法》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 上海市测试技术研究所 。 GB/T 16594-1996 废止 GB/T 16594-2008 (全部代替)
  基础信息
标准号 GB/T 16594-1996
发布日期 1996-11-04
实施日期 1997-04-01
废止日期 2009-05-01
标准号 GB/T 16594-1996
发布日期 1996-11-04
实施日期 1997-04-01
废止日期 2009-05-01
  起草单位
  上海市测试技术研究所
  起草人
  GB/T 16594-2008  微米级长度的扫描电镜测量方法通则
  GB/T 20307-2006  纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
  20232638-T-469  微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
  JB/T 14501-2023  微米级干雾抑尘装置
  20220997-T-610  贵金属键合丝热影响区长度测定 扫描电镜法
  JB/T 11425-2013  超硬磨料制品用微米级羰基铁粉
  GB/T 24532-2009  微米级羰基铁粉
  DL/T 1521-2016  火力发电厂微米级干雾除尘装置
  GB/T 17722-1999  金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
  DB13/T 1263-2010  微米级干雾抑尘技术应用规范
  推荐标准
  申明
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