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  标准概要

确定晶片坐标系规范

Specification for establishing a wafer coordinatesystem
国家标准《确定晶片坐标系规范》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中国有色金属工业总公司 。 GB/T 16596-1996 废止 GB/T 16596-2019 (全部代替) 本标准等效采用其他国际标准:SEMI M20:1992。 采标中文名称:。
  基础信息
标准号 GB/T 16596-1996
发布日期 1996-11-04
实施日期 1997-04-01
废止日期 2020-02-01
标准号 GB/T 16596-1996
发布日期 1996-11-04
实施日期 1997-04-01
废止日期 2020-02-01
  起草单位
  中国有色金属工业总公司
  起草人
  GB/T 16596-2019  确定晶片坐标系规范
  20194111-T-339  声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法
  YS/T 986-2014  晶片正面系列字母数字标志规范
  GB/T 28584-2012  城市坐标系统建设规范
  GB/T 16595-2019  晶片通用网格规范
  20231113-T-469  半导体晶片直径测试方法
  20231108-T-469  碳化硅单晶片微管密度测试方法
  20241911-T-469  太阳能电池用硅单晶及硅单晶片
  GB/T 30112-2013  月球空间坐标系
  GB/T 42042-2022  空间站坐标系
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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