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  标准概要

硅多晶

Polycrystalline silicon
国家标准《硅多晶》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 峨眉半导体材料厂 。 GB 12963-1991 (全部代替) GB/T 12963-1996 废止 GB/T 12963-2009 (全部代替) 本标准等效采用ITU国际标准:SEMI M16:1989。 采标中文名称:。
  基础信息
标准号 GB/T 12963-1996
发布日期 1996-11-04
实施日期 1997-04-01
废止日期 2010-06-01
标准号 GB/T 12963-1996
发布日期 1996-11-04
实施日期 1997-04-01
废止日期 2010-06-01
  起草单位
  峨眉半导体材料厂
  起草人
  YS/T 724-2016  多晶硅用硅粉
  YS/T 1061-2015  改良西门子法多晶硅用硅芯
  YS/T 14-2015  异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
  DB53/T 499-2013  多晶硅用三氯氢硅
  GB/T 4060-2018  硅多晶真空区熔基硼检验方法
  GB/T 4061-2009  硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
  GB/T 4059-2018  硅多晶气氛区熔基磷检验方法
  DB53/T 500-2013  多晶硅用三氯氢硅组分含量测定 气相色谱法
  DB53/T 501-2013  多晶硅用三氯氢硅杂质元素含量测定 电感耦合等离子体质谱法
  20231109-T-469  太阳能级多晶硅
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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