标准概要

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators

国家标准《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位北京半导体器件研究所。 GB 6798-1986 （全部代替） GB/T 6798-1996 现行

基础信息

标准号 GB/T 6798-1996

发布日期 1996-07-09

实施日期 1997-01-01

全部代替标准 GB 6798-1986

标准号 GB/T 6798-1996

发布日期 1996-07-09

实施日期 1997-01-01

全部代替标准 GB 6798-1986

起草单位

北京半导体器件研究所

起草人

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申明

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半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理