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  标准概要

非本征半导体材料导电类型测试方法

Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials
国家标准《非本征半导体材料导电类型测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 峨嵋半导体材料厂 。 GB 1550-1979 (全部代替) GB 5256-1985 (全部代替) GB/T 1550-1997 废止 GB/T 1550-2018 (全部代替) 本标准等效采用ITU国际标准:ASTM F42:1988。 采标中文名称:。
  基础信息
标准号 GB/T 1550-1997
发布日期 1997-06-03
实施日期 1997-12-01
废止日期 2019-11-01
全部代替标准 GB 5256-1985,GB 1550-1979
标准号 GB/T 1550-1997
发布日期 1997-06-03
实施日期 1997-12-01
废止日期 2019-11-01
全部代替标准 GB 5256-1985,GB 1550-1979
  起草单位
  峨嵋半导体材料厂
  起草人
  GB/T 1550-2018  非本征半导体材料导电类型测试方法
  YS/T 679-2008  非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
  20233951-T-610  非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  YS/T 679-2018  非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
  GB/T 4326-2006  非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  20242763-T-906  导电、防静电塑料体积电阻率测试方法
  SJ/T 11792—2022  锂离子电池电极材料导电性测试方法
  JB/T 13537-2018  电磁屏蔽用导电粉体体积电阻率测试方法
  GB/T 15662-1995  导电、防静电塑料体积电阻率测试方法
  20231782-T-339  半导体器件 微电子机械器件 第22部分:柔性衬底导电薄膜机电拉伸测试方法
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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