标准概要

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay

国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位峨嵋半导体材料厂。 GB/T 1553-1979 （全部代替） GB/T 5257-1985 （全部代替） GB/T 1553-1997 废止 GB/T 1553-2009 （全部代替）本标准等效采用ITU国际标准：ASTM F28:1990。采标中文名称:。

基础信息

标准号 GB/T 1553-1997

发布日期 1997-06-03

实施日期 1997-12-01

废止日期 2010-06-01

标准号 GB/T 1553-1997

发布日期 1997-06-03

实施日期 1997-12-01

废止日期 2010-06-01

起草单位

峨嵋半导体材料厂

起草人

GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法

GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法

DB65/T 3485-2013 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法

GB/T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法

20233724-T-606 气体分析气体中微量水分的测定第3部分：光腔衰荡光谱法

YS/T 679-2018 非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试表面光电压法

YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

GB/T 38386-2019 气体分析气体中氮氧化物的测定光腔衰荡光谱法

GB/T 37412-2019 激光器和激光相关设备光腔衰荡高反射率测量方法

GB/T 5832.3-2011 气体中微量水分的测定第3部分：光腔衰荡光谱法

推荐标准

GB/T 7791-1987 自抛光防污漆降阻性能试验方法圆盘转矩法

GB/T 6165-2008 高效空气过滤器性能试验方法效率和阻力

GB/T 18724-2008 印刷技术印刷品与印刷油墨耐各种试剂性的测定

GB/T 37521.1-2019 重点场所防爆炸安全检查第1部分：基础条件

GB/T 37699-2019 中文新闻信息标准体系建设指南

GB/T 33700-2017 地基导航卫星遥感水汽观测规范

GB/T 14896.4-2009 特种加工机床术语第4部分：超声加工机床

GB/T 11759-1989 牛皮

GB/T 17604-1998 橡胶管道接口用密封圈制造质量的建议疵点分类与类别

GB/T 710-2008 优质碳素结构钢热轧薄钢板和钢带

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签