标准概要

半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 2:Rectifier diodes

国家标准《半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国振华集团永光电工厂。 GB/T 4023-1986 （全部代替） GB/T 4023-1997 废止 GB/T 4023-2015 （全部代替）本标准等效采用IEC国际标准：IEC 747-2:1983。采标中文名称:。

基础信息

标准号 GB/T 4023-1997

发布日期 1997-10-07

实施日期 1998-09-01

废止日期 2017-01-01

全部代替标准 GB/T 4023-1986

标准号 GB/T 4023-1997

发布日期 1997-10-07

实施日期 1998-09-01

废止日期 2017-01-01

全部代替标准 GB/T 4023-1986

起草单位

中国振华集团永光电工厂

起草人

GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

20232773-T-339 半导体分立器件第2部分：整流二极管

20201543-T-339 半导体器件分立器件第15部分：绝缘功率半导体器件

GB/T 17573-1998 半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则

GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件

GB/T 6351-1998 半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管（包括雪崩整流二极管）空白详细规范

GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

20242947-T-339 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性

SJ/T 9014.8.2-2018 半导体器件分立器件第8-2部分：超结金属氧化物半导体场效应晶体管空白详细规范

推荐标准

GB/T 32997-2016 表面化学分析辉光放电发射光谱定量成分深度剖析的通用规程

GB/T 25498.5-2017 电声学人头模拟器和耳模拟器第5部分：测量助听器和以插入方式与人耳耦合的耳机用2cm3声耦合器

GB/T 16312-1996 中药用喷雾干燥装置

GB/T 14372-2024 危险品爆炸品的认可和分项试验方法

GB/T 25921-2010 电气和仪表回路检验规范

GB/T 14598.6-1993 电气继电器第十八部分:有或无通用继电器的尺寸

GB/T 44562-2024 航空用钛合金100°沉头大底脚螺纹抽芯铆钉

GB/T 42274-2022 氮化铝材料中痕量元素（镁、镓）含量及分布的测定二次离子质谱法

GB/T 34699-2017 低温硫磺尾气加氢催化剂物理性能试验方法

GB/T 34563-2017 卫生陶瓷机械术语

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签

类器官团体标准

羽毛球团体比赛规则

政府采信团体标准

制定团体标准费用

团体标准流程

团体标准制定有哪些

护理学会团体标准

中国医院协会团体标准

养殖场标准

行业标准与团体标准的区别