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  标准概要

用于集成电路制造技术的检测图形单元规范

Specification for metrology pattern cells for integrated circuit manufacture
国家标准《用于集成电路制造技术的检测图形单元规范》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC4(全国半导体设备和材料标准化技术委员会微光刻分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中国科学院缩微电子中心 。 GB/T 16878-1997 现行 本标准等同采用其他国际标准:SEMI P19:1992。 采标中文名称:。
  基础信息
标准号 GB/T 16878-1997
发布日期 1997-06-20
实施日期 1998-03-01
标准号 GB/T 16878-1997
发布日期 1997-06-20
实施日期 1998-03-01
  起草单位
  中国科学院缩微电子中心
  起草人
  GB/T 29844-2013  用于先进集成电路光刻工艺综合评估的图形规范
  SJ/T 11605-2016  基于射频识别技术的用于产品和服务域名规范
  20240248-T-339  半导体集成电路 图形处理器(GPU)
  TB/T 2963-2013  牵引动力单元标记和图形符号
  JR/T 0045.4-2014  中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第4部分:非接触卡片检测规范
  JR/T 0045.2-2014  中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第2部分:借记/贷记应用终端检测规范
  JR/T 0045.1-2014  中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第1部分:借记/贷记应用卡片检测规范
  JR/T 0045.5-2014  中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第5部分:非接触终端检测规范
  20241503-T-604  自动化系统与集成 制造应用解决方案的能力单元互操作 第2部分:能力模板和软件单元编目
  JR/T 0045.3-2014  中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3部分:借记/贷记应用个人化检测规范
  推荐标准
  申明
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