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  标准概要

光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则

Guidelines for photomask defect classification and size definition
国家标准《光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC4(全国半导体设备和材料标准化技术委员会微光刻分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中国科学院微电子中心 。 GB/T 16880-1997 现行 本标准等同采用其他国际标准:SEMI P22:1993。 采标中文名称:。
  基础信息
  起草单位
  标准号
  GB/T 16880-1997
  发布日期
  1997-06-20
  实施日期
  1998-03-01
  标准类别
  基础
  中国标准分类号
  L97
  国际标准分类号
  31.020 31 电子学 31.020 电子元器件综合
  归口单位
  全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  执行单位
  全国半导体设备和材料标准化技术委员会微光刻分会
  主管部门
  国家标准委
  起草人
  中国科学院微电子中心
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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