标准概要

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验

Electromechanical components for electronic equipment--Basic testing procedures and measuring methods--Part 2:Generalexamination，electrical continuity and contact resistance tests，insulationtests and voltage stress tests

国家标准《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验》由TC166（全国电子设备用机电元件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位电子工业部标准化研究所。 GB/T 5095.2-1986 （全部代替） GB/T 5095.2-1997 现行本标准等同采用IEC国际标准：IEC 512-2:1985。采标中文名称:。

基础信息

标准号 GB/T 5095.2-1997

发布日期 1997-12-26

实施日期 1998-10-01

全部代替标准 GB/T 5095.2-1986

标准号 GB/T 5095.2-1997

发布日期 1997-12-26

实施日期 1998-10-01

全部代替标准 GB/T 5095.2-1986

起草单位

电子工业部标准化研究所

起草人

GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分:撞击试验（自由元件）、静负荷试验（固定元件）、寿命试验和过负荷试验

GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验

20061455-T-339 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11-8部分：气候试验试验11h：沙尘

20061447-T-339 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11-1部分：气候试验试验11a：气候序列

GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分:气候试验和锡焊试验

GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第7部分:机械操作试验和密封性试验

GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）

GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第9部分:杂项试验

GB/T 5095.11-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11部分:气候试验

GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分：试验25f：眼图和抖动

推荐标准

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申明

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