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  标准概要

半导体键合铝-1%硅细丝

Fine aluminium-1% silicon wire for semiconductor lend-bonding
国家标准《半导体键合铝-1%硅细丝》 由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国有色金属工业协会。 主要起草单位 北京有色金属与稀土应用研究所 。 GB 8646-1988 (全部代替) GB/T 8646-1998 废止
  基础信息
标准号 GB/T 8646-1998
发布日期 1998-07-15
实施日期 1999-02-01
废止日期 2007-09-29
全部代替标准 GB 8646-1988
标准号 GB/T 8646-1998
发布日期 1998-07-15
实施日期 1999-02-01
废止日期 2007-09-29
全部代替标准 GB 8646-1988
  起草单位
  北京有色金属与稀土应用研究所
  起草人
  YS/T 543-2015  半导体键合用铝-1%硅细丝
  YS/T 1105-2016  半导体封装用键合银丝
  SJ/T 10705-1996  半导体器件键合丝表面质量检验方法
  GB/T 8750-2022  半导体封装用金基键合丝、带
  HG/T 2797.1-1996  硅铝炭黑筛余物的测定
  20220997-T-610  贵金属键合丝热影响区长度测定 扫描电镜法
  HG/T 2797.1-2007  硅铝炭黑 第1部分:筛余物的测定 水冲洗法
  YS/T 678-2008  半导体器件键合用铜丝
  YS/T 641-2007  半导体器件键合用铝丝
  YB/T 4393-2014  铝铁、铝锰铁及硅铝锰铁 铝含量的测定 EDTA滴定法
  推荐标准
  申明
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