标准概要

红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays

国家标准《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国科学院上海技术物理研究所。 GB/T 17444-1998 废止 GB/T 17444-2013 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 17444-1998

发布日期 1998-07-30

实施日期 1999-05-01

废止日期 2014-04-15

标准号 GB/T 17444-1998

发布日期 1998-07-30

实施日期 1999-05-01

废止日期 2014-04-15

起草单位

中国科学院上海技术物理研究所

起草人

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申明

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