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标准概要
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of adhesion
国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定》 由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国有色金属工业协会。 主要起草单位 昆明贵金属研究所 。 GB/T 17473.4-1998 废止 GB/T 17473.4-2008 (全部代替)
基础信息
标准号
GB/T 17473.4-1998
发布日期
1998-08-19
实施日期
1999-03-01
废止日期
2008-09-01
标准号
GB/T 17473.4-1998
发布日期
1998-08-19
实施日期
1999-03-01
废止日期
2008-09-01
起草单位
昆明贵金属研究所
起草人
GB/T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
推荐标准
GB 15999-1995 丁型病毒性肝炎诊断标准及处理原则
GB/T 19524.1-2004 肥料中粪大肠菌群的测定
GB/T 4324.4-1984 钨化学分析方法 孔雀绿光度法测定锑量
GB/T 5009.151-2003 食品中锗的测定
GB/T 27934.1-2011 纸质印刷品覆膜过程控制及检测方法 第1部分:基本要求
GB/T 16462.6-2017 数控车床和车削中心检验条件 第6部分:精加工试件精度检验
GB/T 19883-2005 果冻
GB/T 6725-2008 冷弯型钢
GB/T 12331-1990 有毒作业分级
GB/T 4763-1984 党、派代码
申明
本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台,本内容目的仅在于分享交流与学习。
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