标准概要

金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法

Gold-plated thickness measurement by SEM

国家标准《金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位中国科学院北京科仪研制中心。 GB/T 17722-1999 现行 20232638-T-469 正在起草

基础信息

标准号 GB/T 17722-1999

发布日期 1999-04-11

实施日期 1999-12-01

标准号 GB/T 17722-1999

发布日期 1999-04-11

实施日期 1999-12-01

起草单位

中国科学院北京科仪研制中心

起草人

20232638-T-469 微束分析金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法

JB/T 7503-1994 金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法

QB/T 1131-2005 首饰金覆盖层厚度的规定

QB/T 1133-2017 首饰金覆盖层厚度的测定光谱法

QB/T 1135-2006 首饰金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法

GB/T 31563-2015 金属覆盖层厚度测量扫描电镜法

20232871-T-604 金属覆盖层覆盖层厚度测量轮廓仪法

20232902-T-604 磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法

QB 1132-1991 首饰银覆盖层厚度的规定

QB 1131-1991 首饰金覆盖层厚度的规定

推荐标准

申明

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