标准概要

半导体器件分立器件分规范

Semiconductor devices--Sectional specification for discrete devices

国家标准《半导体器件分立器件分规范》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位南京电子器件研究所。 GB/T 12560-1990 （全部代替） GB/T 12560-1999 现行 20233151-T-339 正在审查本标准等同采用IEC国际标准：IEC 747-11:1985。采标中文名称:。

基础信息

标准号 GB/T 12560-1999

发布日期 1999-08-02

实施日期 2000-03-01

全部代替标准 GB/T 12560-1990

标准号 GB/T 12560-1999

发布日期 1999-08-02

实施日期 2000-03-01

全部代替标准 GB/T 12560-1990

起草单位

南京电子器件研究所

起草人

20201543-T-339 半导体器件分立器件第15部分：绝缘功率半导体器件

20242947-T-339 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

GB/T 20516-2006 半导体器件分立器件第4部分：微波器件

GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件

GB/T 17573-1998 半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则

GB/T 4587-2023 半导体器件分立器件第7部分：双极型晶体管

GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

20233151-T-339 半导体分立器件第1部分：分规范

GB/T 29332-2012 半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT）

推荐标准

GB/T 42758-2023 用于节目制作的先进声音系统

GB/T 34064-2017 通用自动化设备行规导则

GB/T 12444.2-1990 金属磨损试验方法环块型磨损试验

GB 8774-1988 车间空气中锑及其化合物卫生标准

GB/T 14454.12-1993 香料微量氯测定法

GB/T 34528-2017 气瓶集束装置充装规定

GB 30254-2024 高压三相笼型异步电动机能效限定值及能效等级

GB/T 16658-1996 煤中铬、镉、铅的测定方法

GB/T 4728.6-2008 电气简图用图形符号第6部分：电能的发生与转换

GB/T 19314.4-2019 小艇艇体结构和构件尺寸第4部分：车间和制造

申明

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