标准概要

砷化镓单晶AB微缺陷检验方法

The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal

国家标准《砷化镓单晶AB微缺陷检验方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京有色金属研究总院。 GB/T 18032-2000 现行

基础信息

标准号 GB/T 18032-2000

发布日期 2000-04-03

实施日期 2000-09-01

标准号 GB/T 18032-2000

发布日期 2000-04-03

实施日期 2000-09-01

起草单位

北京有色金属研究总院

起草人

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推荐标准

申明

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