电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理

国家标准《电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、河北北芯半导体科技有限公司 、池州华宇电子科技有限公司 、河北中电科航检测技术服务有限公司 、深圳市标准技术研究院 、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司 、绵阳迈可微检测技术有限公司 、武汉格物芯科技有限公司 、惠州市特创电子科技股份有限公司 、佛山市毅丰电器实业有限公司 。 主要起草人 刘玮 、石东升 、晋李华 、彭勇 、闫萌 、张鑫 、彭浩 、崔波 、魏兵 、赵鹏 、麦日容 、徐昕 、米村艳 、何黎 、陈金星 、吴卫斌 。 GB/T 42706.2-2023 现行 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62435-2:2017。 采标中文名称:电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理。