半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、河北北芯半导体科技有限公司 、合肥联诺科技股份有限公司 、河北中电科航检测技术服务有限公司 、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司 、佛山市川东磁电股份有限公司 。 主要起草人 裴选 、张魁 、黄纪业 、席善斌 、彭浩 、魏兵 、林瑜攀 、颜天宝 。 GB/T 4937.32-2023 现行 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-32:2010。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）。